कंटूर और सतह माप प्रणालीChotest
SJ5760
कंटूर और सतह माप प्रणाली
Chotest
SJ5760
EXW स्थिर मूल्य कर के अतिरिक्त
€18,900
निर्माण वर्ष
2024
स्थिति
प्रदर्शनी मशीन
स्थान
Leonberg 

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मशीन के बारे में जानकारी
- मशीन का नाम:
- कंटूर और सतह माप प्रणाली
- निर्माता:
- Chotest
- मॉडल:
- SJ5760
- निर्माण वर्ष:
- 2024
- स्थिति:
- लगभग नई (प्रदर्शन मशीन)
- प्रचालन घंटे:
- 15 h
मूल्य और स्थान
EXW स्थिर मूल्य कर के अतिरिक्त
€18,900
- स्थान:
- Mühlstraße 41, 71229 Leonberg, Deutschland

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प्रस्ताव का विवरण
- विज्ञापन आईडी:
- A20678575
- अद्यतन:
- अंतिम बार 04.12.2025 को
विवरण
Precise Profile Measuring Instrument | Excellent Condition | Ready for Immediate Use
For sale is a Chotest SJ-5760P, a high-precision contour measuring instrument designed for geometric profile analysis in quality management, toolmaking, mechanical engineering, and research. This unit provides accurate measurements with extended travel ranges and features a stable granite base for reliable results.
—
Condition
• Pre-owned, technically inspected
• Fully operational
• Very well maintained
—
Technical Highlights – Chotest SJ-5760P
Travel Ranges
• X-axis: 0–200 mm
• Z-axis: 0–450 mm
• Device dimensions: 800 × 450 × 1100 mm
• Weight: 220 kg
—
Profile Measurement (SJ-5760P)
• Measuring range Z1: ±25 mm
• Resolution: 0.001 µm
• Measurement direction: Top / Down
• Measuring speed: 0.05–5 mm/s
• Positioning speed: X/Z up to 20 mm/s
Bledpfx Abjx Db Stjfor
• Measuring force: 10–150 mN, adjustable
• Guideway deviation: ≤1 µm / 200 mm
Accuracy
• X-axis indication error: ±(0.5 + 0.015L) µm
• Z1-axis indication error: ±(0.5 + 0.05H) µm
• Distance: ±(0.8 + 0.02L) µm
• Radius: ≤(1 + R/15) µm
• Angle: ≤±45’’
—
Key Features
• Ideal for precise contour and profile measurements
• Extremely high vertical resolution (0.001 µm)
• Very stable granite base for low-vibration operation
• Large travel ranges for diverse component geometries
• User-friendly and reliable measuring technology
• Suitable for micron-accurate form measurement in both laboratory and production environments
इस विज्ञापन का स्वचालित रूप से अनुवाद किया गया है। अनुवाद में त्रुटियाँ संभव हैं।
For sale is a Chotest SJ-5760P, a high-precision contour measuring instrument designed for geometric profile analysis in quality management, toolmaking, mechanical engineering, and research. This unit provides accurate measurements with extended travel ranges and features a stable granite base for reliable results.
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Condition
• Pre-owned, technically inspected
• Fully operational
• Very well maintained
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Technical Highlights – Chotest SJ-5760P
Travel Ranges
• X-axis: 0–200 mm
• Z-axis: 0–450 mm
• Device dimensions: 800 × 450 × 1100 mm
• Weight: 220 kg
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Profile Measurement (SJ-5760P)
• Measuring range Z1: ±25 mm
• Resolution: 0.001 µm
• Measurement direction: Top / Down
• Measuring speed: 0.05–5 mm/s
• Positioning speed: X/Z up to 20 mm/s
Bledpfx Abjx Db Stjfor
• Measuring force: 10–150 mN, adjustable
• Guideway deviation: ≤1 µm / 200 mm
Accuracy
• X-axis indication error: ±(0.5 + 0.015L) µm
• Z1-axis indication error: ±(0.5 + 0.05H) µm
• Distance: ±(0.8 + 0.02L) µm
• Radius: ≤(1 + R/15) µm
• Angle: ≤±45’’
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Key Features
• Ideal for precise contour and profile measurements
• Extremely high vertical resolution (0.001 µm)
• Very stable granite base for low-vibration operation
• Large travel ranges for diverse component geometries
• User-friendly and reliable measuring technology
• Suitable for micron-accurate form measurement in both laboratory and production environments
इस विज्ञापन का स्वचालित रूप से अनुवाद किया गया है। अनुवाद में त्रुटियाँ संभव हैं।
दस्तावेज़
आपूर्तिकर्ता
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से पंजीकृत: 2023
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