नियामक माप मशीनZeiss
O-Inspect 442 Zeiss Calypso
नियामक माप मशीन
Zeiss
O-Inspect 442 Zeiss Calypso
निर्माण वर्ष
2012
स्थिति
उपयोग किया हुआ
(पूरी तरह से कार्यरत)
स्थान
Saarbrücken 

मूल आधारभूत जानकारी
- मशीन का नाम:
- नियामक माप मशीन
- निर्माता:
- Zeiss
- निर्माण वर्ष:
- 2012
- स्थिति:
- अच्छी स्थिति (इस्तेमाल किया हुआ)
- कार्यक्षमता:
- पूरी तरह से कार्यरत
मूल्य और स्थान
- स्थान:
- An den Ziegelhütten 19-21, 66127 Saarbrücken, Deutschland

कॉल करें
तकनीकी विवरण
शक्ति विवरण
इनपुट वोल्टेज:
230 V
उपकरण
प्रकाश व्यवस्था
प्रलेखन और प्रमाणन
प्रकार प्लेट उपलब्ध है
अक्ष विनिर्देश
X-अक्ष यात्रा दूरी:
400 मिमी
Y-अक्ष की यात्रा दूरी:
400 मिमी
Z-अक्ष की यात्रा दूरी:
200 मिमी
X-अक्ष माप सीमा:
400 मिमी
Y-अक्ष मापने की सीमा:
400 मिमी
मापने की सीमा Z-अक्ष:
200 मिमी
प्रस्ताव का विवरण
- विज्ञापन आईडी:
- A17230982
- अद्यतन:
- अंतिम बार 02.04.2026 को
विवरण
Year of manufacture: 2012
Tactile:
Vast XXT
E0 X/Y (1D) in [μm] at 20 ±2 °C 1.7 + L/250
E0 XY (2D) in [μm] at 20 ±2 °C 1.7 + L/250
E0 (3D) in [μm] at 20 ±2 °C 1.9 + L/250
Dodpfx Aheuq Nfhezjcn
Scanning probing deviation
MPE according to ISO 10360-4:2000 THP at 2.7 [μm]
Single probe probing deviation form
MPE according to ISO 10360-5:2010
PFTU 1.9 [μm]
Camera system:
Zeiss Discovery 12
EB X/Y (1D) 5) in [μm] at 20 ±2 °C 1.7 + L/250
EB XY (2D) 5) in [μm] at 20 ±2 °C 1.7 + L/250
Probe deviation MPE according to ISO 10360-7:2011
PF2D 5) 1.7 [μm]
Probe deviation of the image processing system
MPE according to ISO 10360-7:2011
PFV2D 5) 1.2 [μm]
Possible services: delivery, commissioning
Tactile:
Vast XXT
E0 X/Y (1D) in [μm] at 20 ±2 °C 1.7 + L/250
E0 XY (2D) in [μm] at 20 ±2 °C 1.7 + L/250
E0 (3D) in [μm] at 20 ±2 °C 1.9 + L/250
Dodpfx Aheuq Nfhezjcn
Scanning probing deviation
MPE according to ISO 10360-4:2000 THP at 2.7 [μm]
Single probe probing deviation form
MPE according to ISO 10360-5:2010
PFTU 1.9 [μm]
Camera system:
Zeiss Discovery 12
EB X/Y (1D) 5) in [μm] at 20 ±2 °C 1.7 + L/250
EB XY (2D) 5) in [μm] at 20 ±2 °C 1.7 + L/250
Probe deviation MPE according to ISO 10360-7:2011
PF2D 5) 1.7 [μm]
Probe deviation of the image processing system
MPE according to ISO 10360-7:2011
PFV2D 5) 1.2 [μm]
Possible services: delivery, commissioning
आपूर्तिकर्ता
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से पंजीकृत: 2016
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